NISTEP Repository >
0  報告書 >
99 科学技術動向 (Science & Technology Trends) >
01 日本語版 >
2008年08月 >

このアイテムの引用には次の識別子を使用してください: http://hdl.handle.net/11035/1969

タイトル: 電子デバイス中の歪み分布をナノメートルの空間分解能で計測
著者: 科学技術動向センター
Science and Technology Foresight Center
カガクギジュツドウコウセンター
研究領域: 科学技術予測・科学技術動向
科学技術動向
発行日: 1-8月-2008
出版者: 科学技術政策研究所 科学技術動向研究センター
掲載誌情報: 科学技術動向. 2008, 089, p. 5-5.
資料の種類・番号/レポート番号: 科学技術動向;089
URI: http://hdl.handle.net/11035/1969
ISSN: 1349-3663
出現コレクション:2008年08月

このアイテムのファイル:

ファイル サイズフォーマット
NISTEP-STT089-5.pdf784.15 kBAdobe PDF見る/開く

このライブラリに保管されているアイテムは、他に指定されている場合を除き、著作権により保護されています。

 

ページトップへ