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タイトル: Global Trend in Aberration Correction Technology for Electron Microscopes and the Current Status in Japan
著者: Abe, Eiji
阿部, 英司
アベ, エイジ
研究領域: 科学技術予測・科学技術動向
科学技術動向
発行日: 1-4月-2011
出版者: NISTEP Science & Technology Foresight Center
掲載誌情報: Science & Technology Trends Quarterly Review. 2011, 039, p32-50.
資料の種類・番号/レポート番号: Science & Technology Trends;039
URI: http://hdl.handle.net/11035/2861
ISSN: 1349-3663
出現コレクション:2011-04

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