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タイトル: 技術知識の減衰モデルと減衰特性分析 - 登録特許残存件数による減衰データへの応用 -
その他のタイトル: Decay Nodel of Technical KnoYledge and AnalYSis of Decay Characteristics-ApplicaIion to Patent ReneYal Data-
著者: 光畑, 照久
研究領域: 研究開発とイノベーション
イノベーションと無形資産
科学技術指標・科学計量学
科学計量学
発行日: 1月-1997
出版者: 科学技術政策研究所 第1研究グループ
資料の種類・番号/レポート番号: DISCUSSION PAPER;001
URI: http://hdl.handle.net/11035/419
出現コレクション:04 DISCUSSION PAPER

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